Contrôleur de polarisation haute vitesse (Format PXIe)
POL-1200 - QUANTIFI PHOTONICS
Le contrôleur de polarisation série POL-1200 offre un contrôle de polarisation automatisé à très grande vitesse pour les procédures de test dépendantes de la polarisation dans les environnements de fabrication à haut volume. Contrairement aux contrôleurs manuels, il utilise deux cristaux électro-optiques pilotés numériquement pour positionner l'état de polarisation en tout point de la sphère de Poincaré, sans réglage de palettes ni de vis de tension.
Il permet de mesurer rapidement et avec précision les caractéristiques de polarisation critiques des composants, aussi bien lors des tests au niveau des plaquettes que lors des tests de composants. Avec trois modes de fonctionnement, c'est un instrument polyvalent, capable de soutenir le cycle de vie du produit depuis la R&D jusqu'à la validation et la fabrication.
Informations techniques complémentaires
- Trois modes de fonctionnement : Scan & Optimize (optimisation automatique en moins de 10 ms), Manuel (réglage direct des deux angles de contrôle), et Dépolarisation (brouillage rapide sur toute la sphère de Poincaré).
- Fonctionnement à haute vitesse : optimisation de polarisation en moins de 10 ms pour les procédures de test dépendantes de la polarisation.
- Faible perte d'insertion : conception garantissant une perte d'insertion exceptionnellement basse (< 1,3 dB).
- Gestion de puissance optique élevée : jusqu'à 500 mW (+25 dBm), pour les applications les plus exigeantes.
- Déclenchement complet : entrées de déclenchement pour piloter le comportement de l'instrument, sorties de déclenchement pour synchroniser d'autres instruments (wattmètres optiques, lasers accordables).
- Contrôle logiciel complet : commandes SCPI ou gRPC, LabVIEW, ou interface web intuitive CohesionUI™.
Découvrez la gamme complète des différents instruments Quantifi Photonics au format PXIe : en savoir plus
Les modules PXIe sont utilisables dans le châssis de contrôle modulaire PXIe
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- Test de dispositifs photoniques au silicium
- Test dépendant de la polarisation, en test au niveau plaquette comme en test de composants
- Instrument de contrôle de polarisation polyvalent, du R&D à la fabrication
- Synchronisation avec sources laser accordables et wattmètres optiques pour bancs de test automatisés
- Modèles disponibles : POL-1201 (1260-1360 nm) | POL-1202 (1520-1620 nm)
- Nombre de canaux : 1
- Type de fibre : entrée PMF, sortie SMF
- Puissance de dommage : +25 dBm
- Perte d’insertion : < 1,3 dB
- Perte de retour : > 50 dB
- PDL (perte dépendante de la polarisation) : < 0,1 dB
- Modes de brouillage (scramble) : sinusoïdal, triangulaire, aléatoire, manuel
- Fréquence max. par lame de phase : 100 kHz
- Précision de l’état de polarisation (SOP) : ± 0,5°
- Répétabilité de l’état de polarisation (SOP) : ± 0,1°
- Impédance d’entrée RF : 50 Ω et 1 MΩ (configurable par logiciel)
- Plage de tension d’entrée RF : 0 à 5 V
- Seuil de dommage RF : < 0 V et > 6 V
- Réponse en fréquence d’entrée RF : 300 kHz
- Connecteurs optiques : FC/PC, SC/PC, FC/APC, SC/APC
- Bus : PXI / PXIe, 1 emplacement
- Dimensions (H x L x P) : 130 x 20 x 215 mm
- Poids : ~1 kg
- Température de stockage : -40°C à 70°C
- Température de fonctionnement : 5°C à 45°C
- Garantie : 1 an