Réflectomètre haute résolution
AQ7420 - YOKOGAWA
Le réflectomètre haute résolution AQ7420 est un instrument de mesure photonique de pointe conçu pour la détection précise des réflexions optiques et l’analyse détaillée des connecteurs et modules optiques. Il utilise la technologie réflectométrie optique à faible cohérence (OLCR) permettant d’obtenir une résolution spatiale jusqu’à 40 µm et une sensibilité de détection des réflexions jusqu’à −100 dB, même dans les environnements comportant du bruit parasite.
Adapté aux laboratoires R&D, environnements de métrologie et lignes de production optique, l’AQ7420 identifie avec précision les microfissures, discontinuités et variations de réflexion, tout en offrant la possibilité de mesurer simultanément les réflexions arrière et les pertes d’insertion avec incertitude minimale lorsqu’il est associé à la tête de capteur appropriée.
Informations techniques complémentaires
- Réduction du bruit parasite : l’AQ7420 minimise les artefacts (ghost noise) afin d’améliorer la clarté des formes d’onde et faciliter l’interprétation des données
- Mesure multi-fibres : possibilité de combiner un module de commutation optique pour tests multi-fibres automatisés.
- Support logiciel : logiciel de contrôle pour Windows 11 inclus pour visualisation, génération de rapports et automatisation des tests.
- Applications typiques : analyse de modules photoniques internes, inspection de connecteurs optiques, validation de composants pour R&D et production.
- Comparaison aux autres techniques : meilleure résolution que les OTDR classiques pour détection de micro-événements et structures internes fines.
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Avec certains réflectomètres conventionnels, les bruits parasites peuvent apparaître à tort dans des zones où il n’y a pas de réflexion réelle. L’analyse des formes d’onde nécessite souvent que les utilisateurs aient des connaissances spécialisées sur ce type de phénomènes. L’AQ7420 réduit considérablement les bruits parasites et simplifie l’analyse.
- Technologie de mesure : réflectométrie optique à faible cohérence (OLCR) pour une détection précise des réflexions.
- Résolution spatiale : jusqu’à 40 µm pour distinguer des événements optiques très rapprochés.
- Sensibilité de réflexion : jusqu’à −100 dB sans bruit parasite.
- Distance de mesure : ~100 mm (4 pouces).
- Mesure simultanée : back reflection et insertion loss avec incertitudes réduites lorsqu’associé à capteur optique dédié.
- Temps de mesure : ~6 secondes (réponse plus rapide vs générations précédentes).
- Modèles disponibles : simple longueur d’onde (1310 nm) ou double (1310 nm & 1550 nm).