Laboratoire & Optique
Système de test de plaquettes photoniques sur silicium
IFA-640 - FIBERPRO
L'IFA-640 de FiberPro est un système de test au niveau plaquette (wafer-level) dédié à la photonique sur silicium. Sa configuration se compose d'une station de sonde pour le montage de la plaquette et d'un module d'alignement optique, permettant un couplage automatique entrée/sortie directement sur wafer.
La station de sonde peut être adaptée de manière sélective selon vos exigences de mesure et paramètres spécifiques. Le module d'alignement optique intègre un système de contrôle automatique de la hauteur pour les blocs de réseau de fibres, garantissant précision et répétabilité sur l'ensemble du process de test.
Informations techniques complémentaires
- Couplage vertical automatique : couplage entrée/sortie au niveau de la plaquette, avec blocs de réseau de fibres et/ou fibre optique unique.
- Trois axes de translation et trois axes de rotation : résolution de 0,05 µm/pulse en translation (répétabilité 0,3 µm) et 0,16 mdeg/pulse en rotation (répétabilité 0,003°).
- Puissance mètre intégré : plage de mesure de +5 à -80 dBm, résolution 0,01 dB, sur 1270 à 1630 nm.
- Fonctions d'alignement polyvalentes : traitement d'image et capteurs de contact combinés pour un alignement fiable et rapide.
- Interface graphique (GUI) pratique : pilotage intuitif de l'ensemble du système de test.
- Station de sonde et table anti-vibration au choix : configuration adaptée aux performances requises par votre application.
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Applications
- Test au niveau plaquette (wafer-level test) de circuits photoniques intégrés (PIC) sur silicium
- Fabrication haut volume de composants photoniques et co-packaged optics (CPO)
- Caractérisation de dispositifs photoniques directement sur wafer, avant découpe et packaging
- R&D en photonique sur silicium nécessitant un alignement optique de haute précision
- Contrôle qualité en ligne de production de circuits intégrés photoniques
Caractéristiques techniques
- Type : système de test au niveau plaquette (wafer-level) pour photonique sur silicium
- Taille de plaquette max. : jusqu’à 12 pouces (selon la station de sonde)
- Couplage : automatique entrée/sortie, couplage vertical au niveau de la plaquette
- Compatibilité de couplage : bloc de réseau de fibres et/ou fibre optique unique (fibre gainée 250 µm)
- Axes de translation : 3 axes, résolution 0,05 µm/pulse, répétabilité 0,3 µm
- Axes de rotation : 3 axes, résolution 0,16 mdeg/pulse, répétabilité 0,003°
- Support de test : porte-bloc de réseau de fibres, porte-fibre unique, capteur de déplacement pour contrôle de hauteur
- Plage de longueurs d’onde (puissance mètre) : 1270 à 1630 nm
- Plage dynamique de puissance : +5 dBm à -80 dBm
- Précision absolue : 0,2 dB @ -65 dBm
- Fréquence de mesure max. : 20 kHz
- Résolution de mesure : 0,01 dB
- Alimentation : 220 V (version 110 V disponible), monophasé 50/60 Hz, 2200 VA
- Pression d’air : 6 kgf/cm², 4 tubes
- Vide (vacuum) : 6 tubes
- Poids total : environ 550 kg
- Interface : interface graphique (GUI) dédiée
Pour aller plus loin