Mesure instantanée de contrainte et de température (OFDR)
ETSC - OSI-D
L’OSI-D d’ETSC est un système OFDR haute-précision pour la mesure instantanée de contrainte et de température. Avec une résolution ±1 µE / ±0,1 °C et spatiale ajustable de 0,64 à 10 mm, il fonctionne sur fibres monomodes ou weak FBG, offre 4 canaux, est portable, insensible aux vibrations, et idéal pour laboratoire et applications industrielles sur 20–80 m.
Une version adaptée pour des mesures sur des portées plus longues, avec une acquisition légèrement plus lente, est également disponible : l’OSI-S.

Contrôle de contraintes en temps réel sur des infrastructures (comme des ponts) ou du béton
Test de fatigue de matériaux composites
Analyse de de température sur batteries lithium
Mesure de contrainte et température pour l’industrie automobile
Reconstruction de forme spatiale basée sur la technologie OFDR — Note applicative
Quantifier et qualifier la déformation d’un textile avec des fibres optiques — Note applicative


Longueur de mesure : 20 m (standard), possibilité d’aller jusqu’à 80 m
Taux d’acquisition : 100 Hz
Précision en température : ±0,1°C
Précision en contrainte : ± 1 µE
Echelle de mesure contrainte : ± 12000 µE
Echelle de mesure en température : -200°C à 1200 °C
Résolution spatiale : 0,64 mm – 10,24 mm
Calibration automatique (sans intervention utilisateur)
Senseur : fibres monomode ou weak FBG
Connectique : FC/APC
Communication : USB
2D Shape Sensing : visualisation en direct de la déformation (option)
Possibilité de déporter le système avec une fibre « lead » avec la fibre capteur
Garantie 2 ans
Livré avec logiciel et ordinateur portable préconfiguré
Caractérisation haute-précision de composants optiques - ETSC - OCI-V (OFDR)
Les systèmes OCI sont des systèmes d’analyse vectorielle optique basée sur la technologie OFDR et permettent de caractériser efficacement et rapidement des composants optiques. Il devient ainsi facile de déterminer les pertes d’insertions (insertion loss, IL), le group ou chromatic…
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Mesure haute-précision de contrainte et de température - ETSC - OSI-S (OFDR)
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