Analyseur vectoriel optique haute précision (OFDR)
OCI-V - ETSC
L’analyseur vectoriel optique OCI-V est un instrument de mesure photonique basé sur la technologie Optical Frequency Domain Reflection (OFDR) pour la caractérisation haute précision des composants optiques. Il permet de déterminer avec fiabilité des paramètres optiques critiques tels que perte d’insertion (IL), perte dépendante de la polarisation (PDL), dispersion de mode polarisation (PMD) et retard de groupe (GD) sur des dispositifs photoniques complexes.
Son design optique performant et son interface intuitive le rendent adapté aux laboratoires de R&D, centres de métrologie et ingénierie photonique pour l’analyse détaillée des guides d’ondes, puces photoniques et composants optiques fibrés.
Informations techniques complémentaires
- Applications R&D : caractérisation de guides d’ondes planar, puces photoniques intégrées, filtres optiques et composants fibrés.
- Analyse complète : calcul des paramètres vectoriels et matrice de Jones pour une interprétation complète des propriétés optiques des composants./li>
- Comparaison aux techniques classiques : OFDR offre une meilleure résolution spectrale et spatiale que les méthodes traditionnelles de réflectométrie pour l’identification fine des événements optiques.
- Support logiciel : interface utilisateur intuitive pour visualisation, export de données et analyse automatisée des résultats.
- Compatibilité systèmes : intégré aux chaînes de test automatiques pour mesures répétables dans les environnements de production ou de laboratoire.
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Caractérisation de guide d’onde
Caractérisation de puce photonique
Caractérisation d’instrument fibré
Caractérisation d’instrument fibré ajustable (amplificateur, filtre …)
- Technologie de mesure : Optical Frequency Domain Reflection (OFDR) pour caractérisation vectorielle optique.
- Analyse jusqu’à : 200 m de liaison ou fibre.
- Bandes de longueur d’onde : C+L (1525-1625 nm) et O (1265-1345 nm).
- Résolution en longueur d’onde : 1,6 pm.
- Précision en longueur d’onde : ± 1,0 pm.
- Connectique optique : FC/APC.
- Communication : USB.
- Insertion Loss (IL) : dynamique ~60 dB; précision de perte de retour ± 0,1 dB; résolution ± 0,05 dB.
- Group delay (GD) : plage ~6 ns; précision ± 0,2 ns.
- Chromatic dispersion (CD) : précision ± 10 ps/nm.
- Polarization dependant loss (PDL) : dynamique ~40 dB; précision ± 0,05 dB.
- Polarization mode dispersion (PMD) : plage ~6 ns; précision ± 0,1 ps.
- Livré avec : logiciel et ordinateur portable préconfiguré.
- Garantie : 2 ans.
Mesure haute-précision de contrainte et de température - ETSC - OSI-S (OFDR)
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Mesure instantanée de contrainte et de température (OFDR) - ETSC - OSI-D
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